当社のOCT(Optical Coherence Tomography)は、1.3μmのSLD光源を使用したTime Domain方式を採用することにより、低価格でポータブルな一般工業製品を測定する装置として開発されました。
断層検査装置としてはX線CTがポピュラーですが、X線CTは透過測定である為、測定物に対しX線照射面の反対側にセンサーが必要となり大型となります。OCTは反射測定であるため、測定自由度が高く、環境・人体に安全な光を使用しているなどの利点があります。
本装置の特長
1)光源にはTLS (Tunable LASERSource)
では無く、より安価なSLD (Super
Lumi-nescent Diode) を使用してい
ます。
2)ポータブルで現場使用に適していま
す。
3)ワイドダイナミックレンジ・高速測
定が可能です。
4)Time DomainのRTD光学系により測定
レンジが10mm以上ありながら測定周
波数15Hzでの安定した高速測定を可
能としています。
装置タイプ
1)OEMタイプ
2)OCTシステム
3)オプション 簡易1軸スキャン装置+二次元マップングソフト
OCTモデル構成(装置構成図).pdf 参照
主に医療用分野で使用されているOCTは、高速・高精度化の流れがありますが、当社では低価格でポータブルな一般工業向け製品をコンセプトに本装置を開発しました。
方式はTD-OCT方式を用いています。
TD-OCTの欠点である、ダイナミックレンジと測定時間については、参照ミラーTD機構の部分を、直線運動での時間遅延から、直角ミラーを回転させるRTD機構とし、小型で今までのものより安定してデータを高速取得できる機構にしました。それにより、ダイナミックレンジが広く、且つ 高速での測定を可能にしました。
>モデル構成図
>RTDタイプ